- 기존의 수작업에서 숙련도를 요하는 다양한 분석 업무를 위한 미량(특히 1 ~ 10㎛) 샘플링을 누구나 쉽게 작업 가능
- 정확한 미량 샘플링 및 릴리스 가능
- 표준화·정확성·재현성 실현
- 적용 분야: 액정·전자부품·반도체·화학재료·기능재료·제약 등의 제조 공장
Application
- 표면 이물(부착,낙하)의 채취와 릴리스
· Sample: 레이저 프린트 토너입자
· Micro Tool: Tungsten Probe(0.5㎛)
- 매립 이물의 단면 돌출, 불필요 부분 제거
· Sample: 필름 돌기부
· Micro Tool: Ruby Knife (Flat-Blade)
- 매립 이물의 굴삭, 절개와 릴리스
· 1㎛ 단위로 절삭량 관리 가능
· Sample: 편광 필름
· Micro Tool: Ruby Knife (Flat-Blade 50㎛)
- 점착제 내에 혼입된 이물 채취와 릴리스
· 직경 10㎛의 단섬유 1가닥도 채취 가능
· Sample: 테이프에 부착된 단섬유
· Micro Tool: Micro Tweezers

- FIB 박편의 리프트아웃 등의 자세 제어와 릴리스
· 정확한 리프트아웃과 릴리스 작업 가능
· Sample: FIB 가공 박편
· Micro Tool: Glass Tool

- 경질 시료의 마킹 (선폭 5㎛ 이하 가능)
· 금속·유리·실리콘 웨이퍼 등의 경질 재료에 선 긋기 가능
· Sample: 붕규산 유리
· Micro Tool: Hard Metal Tool (5㎛)

- 미세 Hole내의 이물, 핀포인트 채취
· Sample: 잉크젯 프린트 노즐 (20㎛)
· Micro Tool: Tungsten Probe (0.5㎛)

- 미량의 액체 흡입과 도출
· Sample: 수성 잉크
· Micro Tool: Micro Injector (내경 10㎛)

- 깊이 방향 절삭 열화도·면 도출
· Sample: 수지 성형품 코팅 부분
· Micro Tool: 초음파 절삭기

- 프로빙 (5㎛ 정도의 배선 대응 가능)
· Sample: 프린트 기판
· Micro Tool: Electrode Holder (Tungsten Probe)

- 현미경 일체형 Manipulator 본체, 전용PC & 모니터, 콘트롤러 (모니터상 총 배율: 약 200~2600 배)
Axis Pro SS
- Handles 5μm-size object with precise motion
- Flexibility for custom-designed samplings
- Just moves PC mouse after attaching sample
- Precise sample transfer by program control
- User-friendliness setting
(Angle fixing arm makes it easy to set up tool)
Axis Pro SS set includes
- Axis Pro Main Body (Configuration changes depends on specification)
- LED illumination unit (Reflection and transmission)
- GigE camera
- Dedicated PC (Windows 10 IoT Enterprise for Embedded 64bit)
- 21.5 inch liquid crystal display (Full HD)
- Dedicated Controller (MC-104)
Accessories (Option)
- Super fine pitch rotator- FIB lift out
- Electric Microtweezer- 30μm size grasp / extraction
- Electric rotary stage- Optimize the sample direction
- 2 axis electric rotary stage Optimize the sample direction and transfer position such as grid. mesh
- Mechanical stage- Optimize for adjust when scrape cut
- Dark-field illumination- Discriminate the micro scar and foreign substance
- Diagonal illumination adapter- gurge sample / enhancement of contrast
Axis Pro Applicable Main Analytical Method
- Fourier transform infrared spectrometer (FTIR)
- Micro fourier transform infrared spectrometer (μFTIR)
- Laser Raman Spectroscopy (μRAMAN)
- X-ray Diffraction (XRD)
- Wavelength Dispersive X-ray Fluorescene (WDXRF)
- Energy Dispersive X-ray Fluorescene (EDXRF)
- Electron Probe Micro Analyzer (EPMA)
- Gas Chromatography- Mass Spectrometry (GC/MS)
- Liquid Chromatography- Mass Spectrometry (LC-MS)
- Fourier- Transform Nuclear Magnetic Resonance Spectrometry (FT-NMR)
- Transmission Electron Microscope (TEM)
- Scanning Electron Microscope (SEM)
- Focused Ion Beam (FIB)
- Scanning Probe Microscope (SPM)
- Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)